MACRO镜头
BGA
检测系统
光学旋转效果接口
最新数字显微测量系统
SH-1500 SEM 扫描电镜
微电子
表面贴装
生物科学
医疗设备
机械
司法刑侦
平板显示
材料科学
文博考古
结晶体
Dynamic Eye 3D模型
Laser 测高
以45度斜射激光带进行Z-轴高度测量.
芯片高度
(60x)
金属部件
(100x)
镜头型号
卡口型号
说明
倍率范围
视角
定倍
变倍
直视
斜视
MX-5040RZ
CX-5040RZ
AD-5040SLS
45度激光带照射进行高度测量
-
50-400x
MX-2016Z
AD-2016SL
45度激光带照射进行高度测量
-
20-160x
点击进入
图片库
.
返回
:
首页
:
关于我们
:
产品信息
:
应用
:
常见问题
:
联系我们
:
Copyright© 2002-2008 Hirox China Co., Ltd. All Rights Reserved :
info@hirox.com.cn
沪ICP备08008363号